掌上型光时域反射计SUN-OT4800
SUN-OT4800掌上型光时域反射计是针对FTTx而设计的测试仪器。该产品主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修；光纤光缆的研制与生产测试等。
SUN-OT4800外观结构采用业界最为先进的双色双料一体化模具设计工艺，外观新颖亮丽、坚固耐用、操作非常方便，采用高级防反射LCD显示，使得野外环境下操作界面清晰可见，整机采用双路供电方式，大容量锂电池使整机的工作时间长达10小时以上，该产品具有两种USB接口形式，既可接入U盘，也能通过USB数据线与PC机通信。同时，为方便操作人员携带方便，该产品采用了更人性化的设计，为仪器配备了舒适的背带。
主要特点：
• 掌上型、重量轻、便于携带
? 业界最先进的双色双料一体化防溅式模具工艺，坚固耐用
? 高级防反射LCD，野外环境下显示界面清晰可见
? 1.6m超短事件盲区，测试光纤跳线轻松自如
? 具有自动及手动测试功能
? 双USB接口功能，既可外接U盘，也能通过SyncActive软件与PC机通信
? 支持Bellcore GR196文件格式
? 智能电池电量指示及电池低电压告警功能
? WinCE视窗操作系统，中英文操作界面
? 10小时超长电池续航时间，适于长时间野外施工
? VFL可视故障定位功能
• OTDR光输出头采用可更换方式，端面清洁更加方便 |
 |
超短事件盲区:
SUN-OT4800具有超短的事件盲区，尤其适于对超短的光纤链路或光纤跳线的测试。
快速自动测试:
SUN-OT4800的自动测试功能使得用户无需了解更多的有关该仪器操作的细节，测试步骤变得非常简单，只需要接入光纤、点击【测试】按钮即可，仪器会自动设置最佳测试条件并最终给出准确的测试结果，如测试曲线和事件列表等。
快速曲线分析
SUN-OT4800能够快速准确地查找出测试曲线中的事件点或故障点及其位置信息，并以事件表的形式列出线路中所有的事件信息，这对线路维护人员非常有用，既提高测试效率，又无需了解烦琐的背景知识。
曲线分析及事件列表
超强的文件管理:
SUN-OT4800具有强大的文件管理功能，除了能对机内或U盘的文件进行存储、浏览、删除外，还能够外接基于PCL语言的激光打印机或喷墨打印机，以便打印测试报表。除此之外，SUN-OT4800还可借助SyncActiveSync软件通过USB数据线与PC机高速通信。
文件管理及数据传输
便利的VFL功能:
借助SUN-OT4800的可视红光故障（VFL）功能可以非常方便、快捷地发现短距离光纤链路中断点或大的损耗点位置，以便维护人员及时采取措施，节省时间。
典型应用:
SUN-OT4800掌上型光时域反射计主要用于对FTTx网路的测试。该产品为用户提供了一种低成本的测试方案，具有手动测试(实时测试、平均测试)、自动测试和盲区测试3种模式。
手动测试模式：该测试模式适于那些对该仪器比较了解的熟练操作者，因此能够得到更加准确的测试结果。在手动测试模式中，用户可根据测试需要选择实时测试模式或平均测试模式。
实时测试可快速检测光纤链路的动态变化，应用于需要实时监测或观察光纤链路的对接过程及效果。
平均测试模式可以尽最大可能地抑制测试曲线中的噪声，从而得到更加精确的测试结果。在平均测试模式中，平均次数越大，则对噪声的抑制效果越好，但测试时间也相应的加长，因此，在实际使用中，可根据需要灵活设置平均次数。
自动测试模式：该模式下，仪器能够自动设置最佳测试条件，并给出测试结果，无需操作者了解复杂的背景知识和有关仪器操作的细节。为了提高自动测试的精度，可以适当加大自动测试时的平均次数，但将延长自动测试的时间。
盲区测试模式：该模式适用于对超短距离光纤的测试，如测试光纤跳线的长度等，在该模式下，如希望仪器获得最好的测试结果，要求被测光纤末端的反射损耗(或称回波损耗)大于40dB。
技术规范:
模块 |
SUN-OT4800A |
SUN-OT4800B |
SUN-OT4800C |
中心波长 |
1310nm/1550nm
±20nm |
1550nm/1625nm
±20nm |
1310nm/1550nm/1490nm
±20nm |
适用光纤类型 |
单模 |
单模 |
单模 |
动态范围1(SNR=1) |
28/26dB |
26/24dB |
28/26/24dB |
测距准确度 |
±(1m+取样间隔+0.003%×距离)(不包括折射率置入误差) |
事件盲区2 |
1.6m |
测距分辨率 |
0.25、0.5、1、2、4、8、16m |
测试量程(单模) |
4、8、16、32、64、128、256km |
测试脉宽(单模) |
10、30、80、160、320、640、1280、5120、10240ns |
损耗阈值 |
0.01dB |
采样点数 |
65534 |
线性度 |
0.05dB/dB |
波形存储容量 |
≥800幅 |
折射率设置范围 |
1.00000～2.00000 |
显示 |
320×240、3.5英寸彩色LCD、触摸屏操作 |
接口 |
USB、Min-USB |
光输出接口 |
FC/UPC(标配，可选配万能接头) |
电源 |
AC/DC适配器：电压允许范围：100V～240V(1.5A)，频率允许范围：50/60Hz
直流：15V～20V(2A)
内部锂电池：7.4V，4400mAh，电池工作时间：10小时(常温)3 |
界面语言 |
简体中文/English |
环境适应性 |
工作温度：0℃～40℃(电池充电：5℃～40℃)
存储温度：-40℃～70℃(不包括电池)
相对湿度：5%～95%，无结露 |
外型尺寸 |
210mm×100mm×60mm |
重量 |
约1kg |
注：1. 环境温度23℃±2℃，最大测试脉冲宽度，平均次数大于300。
2. 盲区测试模式(量程4km、脉宽10ns、衰减10dB)，光纤端面反射损耗≥40dB，典型值。
3. 低亮度、不测试。
订货信息:
主机：SUN-OT4800掌上型光时域反射计
标准配备：
项目 |
名称 |
数量 |
标配附件 |
电源线 |
1 |
AC/DC电源适配器 |
1 |
产品合格证 |
1 |
用户手册 |
1 |
光盘(内含模拟分析软件) |
1 |
仪器专用工程塑料箱(含背带) |
1 |
仪器背带 |
1 |
标准模块：SUN-OT4800掌上型光时域反射计可选购的模块如下表
订购编号 |
工作波长 |
测试光纤类型 |
动态范围 |
SUN-OT4800A |
(1550nm/1625nm)±20nm |
SMF(单模) |
26/26dB |
SUN-OT4800B |
(1310nm/1550nm)±20nm |
SMF(单模) |
28/26dB |
SUN-OT4800C |
(1310nm/1550nm/1490nm)±20nm |
SMF(单模) |
28/26/24dB |
选件：
序号 |
名称 |
型号 |
说明 |
1 |
U盘 |
|
存储波形文件 |
2 |
打印机 |
HP LJ P2015D 或 HP LJ 1022 |
打印测试曲线 |
3 |
USB数据线 |
|
与PC机通信 |
4 |
尼龙软包 |
|
运输包 |
5 |
备用电池包 |
SUN-OT4800专用电池包 |
仪器备用电池 |
6 |
FC/SC，FC/ST适配器 |
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|
注：由于设计改进的需要，上述内容如有改变，恕不另行通知 |
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